伪Zernike矩在集成电路键合点检测中的应用

论文发布时间：[2010-03-15] 范文大全编辑：Voive.net

所有作者：李伟泺付科华

作者单位：中国矿业大学信息与电气工程学院

论文摘要：介绍了伪Zernike矩的计算及其性质，对其在集成电路键合点检测中的可行性及实用性进行了分析。可行性分析是先求取样本的１-３阶伪Zernike矩，然后将待检测图片的１-３阶伪Zernike矩与样本进行对比以获得结果；实用性的分析是将样本旋转、缩放，然后分别计算其伪Zernike矩，验证伪Zernike矩对该类图像攻击的抗性。实验结果证明，伪Zernike矩在集成电路键合点检测中具有较高的可行性和实用性。

关键词：图像处理伪Zernike矩集成电路键合点旋转和尺度不变性

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