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基于ARM Cortex-M3核微控制器的铁精粉品位测试仪设计

论文发布时间：[2010-01-01]    范文大全    编辑：Voive.net

所有作者：胡文泉

作者单位：哈尔滨理工大学测控技术系

论文摘要：本文研究出实用的以ARM Cortex_M３内核微控制器的铁精粉品位测试仪。该系统采用新的设计模式和检测信号快速采集等技术，实现了对铁精粉品位的高精度检测；并且给出其测量机理、设计方案、原理框图及软件流程图，并介绍了主要硬件电路；软件设计思想是围绕硬件资源，并且通过软件的方法来实现信号处理。

关键词： ARM Cortex_M3处理器核 铁精粉品位 电感测量

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