所有作者:张莹莹 王雄 朱夏明 原子健 吴惠桢
作者单位:浙江大学物理系
论文摘要:采用磁控溅射方法在玻璃衬底上生长了In2O3晶体薄膜。该薄膜具有(111)晶面择优取向,晶粒尺寸达到33 nm。利用光刻工艺制作了以In2O3晶体薄膜为沟道层的底栅式薄膜晶体管。In2O3薄膜晶体管具有良好的栅压调制特性,场效应迁移率达到6。3 cm2/V8226;s,开关电流比为3×103,阈值电压为-0。9 V。这些结果表明,In2O3薄膜晶体管在新型平板显示领域具有潜在的应用。
关键词: In2O3晶体薄膜 磁控溅射 薄膜晶体管 场效应迁移率
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