所有作者:廖馥丹
作者单位:上海交通大学微电子专业
论文摘要:系统芯片SoC是当前超大规模集成电路设计发展的主流。随着内嵌IP核数量的增加,功能越来越复杂,SoC的测试数据量、测试功耗也随之增加,测试成本也水涨船高,从而为SoC的测试带来更大的挑战。为此,本文围绕SoC内嵌芯核的测试调度问题展开了研究,并针对芯核间的优先关系和功耗等不同约束条件提出了合理的解决方案,以达到尽可能缩短测试时间的目的。
关键词: 遗传算法 测试调度 优先关系 功耗限制
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